درحال بارگذاري...
| ایمیل دوست | |
| نام شما | |
| ایمیل شما | |
| کد مقابل را وارد نمایید | |
این صفحه برای دوست شما با موفقیت ارسال شد.
0
Viewed
توسعه تحلیل خطا و تخمین عمر قطعات الکترونیکی [نوآوریها و فناوریها]
دانشگاه صنعتی شریف، دفتر خدمات فناوری الکترونیک قدرت فشار قوی , شهریار کابلی، مسئول طرح
- سال : 1405
- همکاران طرح: شهریار کابلی، مسئول طرح
- منشاء: دانشگاه صنعتی شریف
- خلاصه/چکیده:این پژوهش به توسعه فناوری تحلیل خطا و تخمین عمر مفید قطعات الکترونیکی قدرت با هدف ارزیابی وضعیت، اصالتسنجی و شناسایی علل خرابی این قطعات میپردازد. فناوری توسعهیافته برای قطعاتی نظیر خازنها، دیودها و سوئیچهای نیمههادی قدرت (IGBT) که در منابع تغذیه، اینورترها و مبدلهای توان الکتریکی به کار میروند، طراحی شده است. در این رویکرد، با بهرهگیری از اندازهگیری مشخصات الکتریکی، آزمونهای فنی و تحلیلهای میکروسکوپی، وضعیت عملکردی و سلامت قطعات پیش و پس از بهرهبرداری ارزیابی میشود. همچنین، مقایسه تصاویر میکروسکوپی قطعات آسیبدیده با نمونههای سالم، امکان شناسایی منشأ و سازوکار خرابی را فراهم میکند. این فناوری با تلفیق دانش مهندسی برق، مهندسی مواد و شیمی، علاوه بر تشخیص قطعات معیوب و نامرغوب و جلوگیری از ورود آنها به چرخه بهرهبرداری، میتواند به پیشگیری از تکرار خطا، افزایش قابلیت اطمینان سامانههای الکترونیکی و کاهش هزینههای تعمیر و نگهداری کمک کند. توسعه این خدمات همچنین ظرفیتهای تخصصی داخلی در حوزه ارزیابی و افزایش قابلیت اطمینان تجهیزات الکترونیک قدرت را تقویت کرده و میتواند وابستگی صنایع به خدمات تخصصی خارجی را کاهش دهد
- نوع تحقیق:فناوری
- یادداشت:گنجینه
- توصیفگرها:
- الکترونیک قدرت Power Electronics
- تحلیل خطا Failure Analysis
- تشخیص خرابی Fault Diagnosis
- تخمین عمر مفید Remaining Useful Life Estimation
- ارزیابی وضعیت Condition Assessment
- اصالتسنجی قطعات Component Authentication
- قابلیت اطمینان Reliability
- قطعات نیمههادی قدرت Power Semiconductor Devices
- تحلیل میکروسکوپی Microscopic Analysis
- آزمونهای الکتریکی Electrical Testing
- طرحها و دستاوردها Plans and Achievements
- نوآوریها و فناوریها Innovations & Technologies
- شماره سند:05-523866